Относительная чувствительность рентгенотелевизионных систем на основе высокочувствительных ПЗС-камер и рентгеновских монокристаллических экранов
Завантаження...
Файли
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України
Анотація
Приведены теоретические и экспериментальные исследования рентгенотелевизионных систем на основе рентгеновского монокристаллического экрана из материала CsI(Tl) и телевизионных камер с использованием высокочувствительных ПЗС-матриц с микролинзовым массивом на поверхности (матрицы EXviev HAD) фирмы «Sony».
Given are the theoretical and experimental studies of X-ray TV systems based on X-ray single-crystal screen from CsI (T1) material and TV cameras using highly-sensitive CCD matrices with a microlens array on the surface (EXvie HAD matrices) of Sony Company. Рентгенотелевизионные
Given are the theoretical and experimental studies of X-ray TV systems based on X-ray single-crystal screen from CsI (T1) material and TV cameras using highly-sensitive CCD matrices with a microlens array on the surface (EXvie HAD matrices) of Sony Company. Рентгенотелевизионные
Опис
Теми
Неразрушающий контроль
Цитування
Относительная чувствительность рентгенотелевизионных систем на основе высокочувствительных ПЗС-камер и рентгеновских монокристаллических экранов / Н,Г. Белый, С.В. Денбновецкий, А.В. Лещишин, С.Р. Михайлов, Н.В. Слободян, В.А. Троицкий // Техническая диагностика и неразрушающий контроль. — 2007. — № 2. — С. 34-40. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.