Некоторые особенности оптического, магнитного и вихретокового методов контроля поверхностного слоя деталей из проводящего и непроводящего материалов

Abstract

Изложены результаты разработок магнитного, вихретокового и оптического интерференционного методов контроля поверхностного слоя деталей, полученные в Институте магнетизма НАН и МОН Украины.Наведено результати розробок магнітного, вихрострумового і оптичного інтерференційного методів контролю поверхневого шару деталей, які отримані в Інституті магнетизму НАН і МОН України.The results of development by the Institute of magnetism of magnetic, vortex-current and optical interference method of control of superficial layer of details are expounded in this work.