X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra
Завантаження...
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Анотація
Primary and Compton scattered radiation spectra from radioactive source ²⁴¹Am were measured in various geometry and for various targets. Spectral lines intensity of characteristic X-ray radiation (CXR), Compton and Rayleigh scattering are defined. The back scattering peak for a line 59.54 keV was explored. X-ray quanta were registered by the packaged Si detector 300mm and input Al foil 10mm thicknesses. Radiation interaction with targets and detector atoms was simulated in software code GEANT 4 (LE). Simulated spectra, quanta registration efficiency and secondary calculated radiation spectra at 90º...160º are compared with experimentally measured energy distributions.
Виміряні прямі і комптонівськи розсіяні спектри від радіоактивного джерела ²⁴¹Am в різній геометрії для різних мішеней. Визначені інтенсивності рентгенівських ліній характеристичного рентгенівського випромінювання (ХРІ), комптонівського і релеєвського розсіяння в розсіяних спектрах. Вивчався пік зворотнього розсіювання для лінії 59.54 кeВ. Рентгенівські кванти реєструвалися корпусованим Si - детектором товщиною 300 мкм і вхідною фольгою Al товщиною 10 мкм. У програмному коді GEANT 4 (LE) моделювалася взаємодія випромінювання з атомами мішені і детектора. Розраховані спектри випромінювання ²⁴¹Am, ефективність реєстрації квантів, спектри вторинного випромінювання, розсіяного під кутами 90º...160º, порівнюються з первинними енергетичними розподілами.
Измерены прямые и комптоновски рассеянные спектры излучения от радиоактивного источника ²⁴¹Am в различной геометрии для различных мишеней. Определены интенсивности рентгеновских линий характеристического рентгеновского излучения (ХРИ), комптоновского и рэлеевского рассеяния в рассеянных спектрах. Изучался пик обратного рассеяния для линии 59.54 кэВ. Рентгеновские кванты регистрировались корпусированным Si - детектором толщиной 300 мкм и входной Al фольгой толщиной 10 мкм. В программном коде GEANT 4 (LE) моделировалось взаимодействие излучения с атомами мишени и детектора. Расчетные спектры излучения ²⁴¹Am, эффективность регистрации квантов и спектры вторичного излучения, рассеянного под углами 90º...160º, сравниваются с экспериментально измеренными энергетическими распределениями.
Виміряні прямі і комптонівськи розсіяні спектри від радіоактивного джерела ²⁴¹Am в різній геометрії для різних мішеней. Визначені інтенсивності рентгенівських ліній характеристичного рентгенівського випромінювання (ХРІ), комптонівського і релеєвського розсіяння в розсіяних спектрах. Вивчався пік зворотнього розсіювання для лінії 59.54 кeВ. Рентгенівські кванти реєструвалися корпусованим Si - детектором товщиною 300 мкм і вхідною фольгою Al товщиною 10 мкм. У програмному коді GEANT 4 (LE) моделювалася взаємодія випромінювання з атомами мішені і детектора. Розраховані спектри випромінювання ²⁴¹Am, ефективність реєстрації квантів, спектри вторинного випромінювання, розсіяного під кутами 90º...160º, порівнюються з первинними енергетичними розподілами.
Измерены прямые и комптоновски рассеянные спектры излучения от радиоактивного источника ²⁴¹Am в различной геометрии для различных мишеней. Определены интенсивности рентгеновских линий характеристического рентгеновского излучения (ХРИ), комптоновского и рэлеевского рассеяния в рассеянных спектрах. Изучался пик обратного рассеяния для линии 59.54 кэВ. Рентгеновские кванты регистрировались корпусированным Si - детектором толщиной 300 мкм и входной Al фольгой толщиной 10 мкм. В программном коде GEANT 4 (LE) моделировалось взаимодействие излучения с атомами мишени и детектора. Расчетные спектры излучения ²⁴¹Am, эффективность регистрации квантов и спектры вторичного излучения, рассеянного под углами 90º...160º, сравниваются с экспериментально измеренными энергетическими распределениями.
Опис
Теми
Ядернo-физические методы и обработка данных
Цитування
X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra / G.L.Bochek, O.S.Deiev, N.I.Maslov, V.K.Voloshyn // Вопросы атомной науки и техники. — 2011. — № 3. — С. 42-49. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.