Изучение динамических и структурных характеристик в облученных кристаллах LiF

Abstract

Импульсным эхо-методом в частотном диапазоне 37,5…232,5 МГц исследован задемпфированный дислокационный резонанс в кристаллах LiF c остаточной деформацией 0,65 % при Т = 300 К в интервале доз облучения 0…1000 Р. Определены зависимости коэффициента вязкости В и средней эффективной длины дислокационного сегмента L от времени облучения.Імпульсним луна-методом у частотному діапазоні 37,5…232,5 МГц досліджено задемпфований дислокаційний резонанс у кристалах LiF із залишковою деформацією 0,65 % при Т = 300 К в інтервалі доз опромінення 0…1000 Р. Визначено залежності коефіцієнта в'язкості В і середньої ефективної довжини дислокаційного сегмента L від часу опромінення.The damped dislocation resonance has been studied in LiF crystals deformed to the value of the residual deformation 0,65 % at Т = 300 К in the interval of irradiation doses 0…1000 R using the pulsed echo technique in the frequencies range 37,5…232,5 MHz. The time irradiation dependences of dislocation damping factor B and the average effective length of the dislocation segment L were determined.