Переохлаждение при кристаллизации частиц легкоплавких металлов в многослойных пленках «углерод-металл-углерод»

Abstract

Приводятся результаты исследований фазовых переходов плавлениекристаллизация в тонких пленках легкоплавких металлов, находящихся между более толстыми слоями аморфного углерода. Установлено, что вследствие плохого смачивания в исследуемых контактных системах уже при первом нагреве тонкие слои легкоплавких металлов распадаются на отдельные островки. Такие пленки представляют собой модель си- стемы «легкоплавкие частицы в тугоплавкой матрице». С помощью двух независимых in situ методик (измерения электросопротивления и электронографических исследований в процессе нагрева и охлаждения) получены величины переохлаждения при кристаллизации наночастиц жидкой фазы в многослойных пленках (C-Bi-C, C-Pb-C, C-Sn-C), равные 115, 135 и 160 K соответственноНаводяться результати досліджень фазових переходів плавлення–кристалізація в тонких плівках легкоплавких металів, що знаходяться між товстішими шарами аморфного вуглецю. Встановлено, що внаслідок поганого змочування в досліджуваних контактних системах вже при першому нагріві тонкі шари легкоплавких металів розпадаються на окремі острівці. Такі плівки є моделлю системи «легкоплавкі частки в тугоплавкій матриці». За допомогою двох незалежних in situ методик (виміри електроопору і електронографічних досліджень у процесі нагріву і охолодження) отримано величини переохолодження при кристалізації наночасток рідкої фази в багатошарових плівках (C-Bi-C, C-Pb-C, C-Sn-C), рівних 115, 135 і 160 K відповідно.The results of studies of phase meltingcrystallization transitions in thin films of fusible metals between thicker layers of amorphous carbon are given. It has been found that, due to poor wetting in contact systems under study, thin layers of fusible metals decompose into separate islands while first heated. Such films are a model of the system “fusible particles in the refractory matrix”. Using two independent in situ techniques (electrical resistance measuring and electron-diffraction studies during heating and cooling) values of supercooling during crystallization of liquid phase nanoparticles in multilayer C-Bi-C, C-Pb-C, C-Sn-C films, equal to 115, 135, and 160 K, respectively have been obtained.