Экситонно-стимулированная диссоциация D₂ в матрице ксенона

Abstract

Представлены результаты исследования спектров ВУФ и УФ катодолюминесценции твердых смесей Xe-D₂ в зависимости от концентрации D₂ и дозы облучения при Т = 4,2 К. Показано, что в процессе облучения в твердых смесях Xe-D₂ осуществляется ряд радиационно-стимулированных процессов(диссоциация D₂, диффузия фрагментов, образование эксимерных комплексов (Xe₂D)* и др.), обусловленных транспортом энергии возбуждений матрицы Xe. Предложен механизм диссоциации D₂ в твердой смеси Xe-D₂, связанный с образованием промежуточного комплекса (XeD₂)*, возникающего при локализации экситонов матрицы вблизи примесного центра.Представлено результати дослідження спектрів ВУФ і УФ катодолюмінесценції твердих сумішей Xe–D₂ в залежності від концентрації D₂ і дози опромінення при Т = 4,2 К. Показано, що в процесі опромінення у твердих сумішах Xe–D₂ здійснюється ряд радіаційно-стимульованих процесів (дисоціація D₂, дифузія фрагментів, утворення ексимерних комплексів (Xe₂D)* та ін.), обумовлених транспортом енергії збуджень матриці Xe. Запропоновано механізм дисоціації D₂ у твердій суміші Xe–D₂, пов’язаний з утворенням проміжного комплексу (XeD₂)*, що виникає при локалізації екситонів матриці поблизу домішкового центра.The results on VUV and UV cathodoluminescence spectra of solid compounds Xe–D₂ studied in relation to D2 concentration and irradiation dose at Т = 4.2 K are presented. It is shown that during irradiation there occur a number of radiation-induced reactions in solid Xe–D₂ mixtures (D₂ dissociation, fragment diffusion, formation of (Xe₂D)* eximer complexes, etc.), which result from the energy transport of band excitations of the Xe matrix. For solid compounds Xe–D₂, a mechanism of D₂ dissociation is suggested which involves an intermediate complex (XeD₂)* formed due to localization of matrix excitons close to the impurity center.