Investigation of Al-ZERODUR interface by Raman and secondary ion mass spectroscopy

Завантаження...
Ескіз

Дата

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України

Анотація

The interface of ZERODUR ceramics and thin aluminium film was investigated by Raman and secondary ion mass-spectroscopy techniques. Possible chemical reactions at the interface is briefly analyzed and compared with experimental data. Contributions of amorphous and crystalline phases of ZERODUR to Raman spectra are discussed. Keywords: ZERODUR ceramics, Raman spectra, secondary ion mass-spectroscopy. Manuscript received 19.04.05; accepted for publication 18.05.05.

Опис

Теми

Цитування

Investigation of Al-ZERODUR interface by Raman and secondary ion mass spectroscopy / L.I. Berezhinsky, V.P. Maslov V.V. Tetyorkin and V.A.Yukhymchuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2005. — Т. 8, № 2. — С. 37-40. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced