Метод моделирования точечных источников излучения для устройства ШД

Abstract

Предложен метод моделирования процесса измерений при помощи устройства ШД (шар детекторный) с учетом свойств симметрии. Представлен последовательный алгоритм моделирования нескольких источников излучения. Показано, что результаты моделирования имеют хорошее согласие с калибровочными измерениями.Запропоновано метод моделювання процесу вимірювань за допомогою пристрою ШД (шар детекторний) з рахуванням властивостей симетрії. Представлено послідовний алгоритм моделювання процедури вимірювань за наявності декількох джерел випромінювання. Показано, що результати моделювання добре узгоджуються з калібрувальними вимірюваннями.Method for Sh-D device measurements simulation with account for symmetry properties is proposed. Exact algorithm for simulation of measurements procedure with multiple radiation sources developed. Modelling results are shown to have perfect agreement with calibration measurement.