Спектрофотометрическое определение гипохлорита N,N-диэтиланилином

Abstract

Предложена методика определения гипохлорита путем фотометрирования (при 475 нм) раствора продукта окисления N,N-диэтиланилина (рН 3 –3,5). Линейность градуировочного графика соблюдается в диапазоне концентраций ClO⁻ 0,1 – 2,0 мг/дм³, предел обнаружения – 0,04 мг/дм³. Относительное стандартное отклонение определения гипохлорита не превышает 0,13. Методика избирательна, простая в выполнении и экспрессная.Запропоновано методику визначення гіпохлоритів шляхом фотометрування (при 475 нм) розчину продукту окиснення N,N-діетиланіліну (рН 3 –3,5). Лінійність градуювального графіку зберігається у діапазоні концентрацій ClО⁻ 0,1 – 2,0 мг/дм³, межа виявлення дорівнює 0,04 мг/дм³. Відносне стандартне відхилення визначення гіпохлориту не перевищує 0,13. Методика вибіркова, проста у виконанні й експресна.Method of hypochlorite determination based on the measurement of light absorbance at 475 nm of the product of N,N-diethylaniline oxidation at рН 3 – 3,5 was proposed. The linearity of the calibration graph is over 0,1 – 2,0 mg L⁻¹ of ClO⁻, the detection limit is 0,04 mg L⁻¹. The relative error of hypochlorite determination did not exceed 0.13. The method is selective, the procedure is simple and rapid.