Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ
Завантаження...
Дата
Автори
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Анотація
Проанализированы процесс и модели отказов ИЭТ из-за механических напряжений и диффузионных процессов.
The process and the models of EEA (electronic engineering articles) failures because of stress and diffusion processes have been analysed.
The process and the models of EEA (electronic engineering articles) failures because of stress and diffusion processes have been analysed.
Опис
Теми
Качество и надежность аппаратуры
Цитування
Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ / С.В. Ленков, З.А. Фишер, В.В. Зубарев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 12-14. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.