Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications

Завантаження...
Ескіз

Дата

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України

Анотація

The authors investigate deformation-induced changes in the electrophysical parameters of the indium antimonide microcrystals at cryogenic temperatures in strong magnetic fields up to 10 T.
Исследованы деформационно-стимулированные изменения электрофизических параметров микрокристаллов антимонида индия при криогенных температурах в сильных магнитных полях (до 10 Тл).
У роботі досліджено деформаційно-стимульоване змінення електрофізичних параметрів ниткоподібних кристалів антимоніду індію за кріогенних температур у сильних магнітних полях (до 10 Тл).

Опис

Теми

Новые компоненты для электронной аппаратуры

Цитування

Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications / A.O. Druzhinin, Yu.M. Khoverko, I.P. Ostrovskii, N.S. Liakh-Kaguy, O.A. Pasynkova // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 3-4. — С. 3-9. — Бібліогр.: 31 назв. — англ.

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced