Високотемпературні сенсори деформації на основі ниткоподібних кристалів фосфіду галію

Завантаження...
Ескіз

Дата

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України

Анотація

Проведено дослідження тензометричних характеристик ниткоподібних кристалів фосфіду галію р-типу провідності, легованих цинком. На основі цих кристалів створено сенсори деформації, працездатні в інтервалі деформацій ±1,2·10⁻³ відн. од. і широкому діапазоні температур — від 20 до 550°С.
Проведено исследование тензометрических характеристик нитевидных кристаллов фосфида галлия р-типа проводимости, легированных цинком. Па основе этих кристаллов созданы сенсоры деформации, работоспособные в интервале деформаций ±1,2-10⁻³ опт. ед. и широком диапазоне температур от 20 до 550°С.
The paper presents a study of tensoresistive characteristics of p-type GaP whiskers with [111] crystallographic orientation coinciding with the direction of the maximal piezoresistive effect for this material. The authors present a newly-developed technology of creating the ohmic contacts to GaP crystals that allows using these crystals at high temperatures (400—600°C). Tensoresistive characteristics of p-type GaP whiskers were studied in the strain range of ±1,2·10⁻³ rel. un. These studies show that the gauge factor for these crystals at 20°C is rather large. Thus, for p-type GaP crystals with a resistivity of 0.025—0.03 Ω·cm, the gage factor is in the range of 90—95.

Опис

Теми

Сенсоэлектроника

Цитування

Високотемпературні сенсори деформації на основі ниткоподібних кристалів фосфіду галію / А.О. Дружинін, І.Й. Мар’ямова, О.П. Кутраков // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 3-4. — С. 26-30. — Бібліогр.: 7 назв. — укр.

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced