Полевая ионная микроскопия металлов при интенсивном внешнем воздействии

Завантаження...
Ескіз

Дата

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України

Анотація

Представлены результаты оригинальных исследований изменений атомно-пространственной структуры различных металлов после интенсивных внешних воздействий (ИВВ), выполненные с помощью метода полевой ионной микроскопии (ПИМ).
The represented are the results of original studies of changes in the atomic-spatial structure of different metals after severe external influences. The field ionic microscopy method was used.

Опис

Теми

Цитування

Полевая ионная микроскопия металлов при интенсивном внешнем воздействии / В.А. Ивченко, Б.М. Эфрос, Е.В. Попова, Н.Б. Эфрос, Л.В. Лоладзе // Физика и техника высоких давлений. — 2003. — Т. 13, № 3. — С. 109-116. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced