Полевая ионная микроскопия металлов при интенсивном внешнем воздействии
Завантаження...
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
Анотація
Представлены результаты оригинальных исследований изменений атомно-пространственной структуры различных металлов после интенсивных внешних воздействий (ИВВ), выполненные с помощью метода полевой ионной микроскопии (ПИМ).
The represented are the results of original studies of changes in the atomic-spatial structure of different metals after severe external influences. The field ionic microscopy method was used.
The represented are the results of original studies of changes in the atomic-spatial structure of different metals after severe external influences. The field ionic microscopy method was used.
Опис
Теми
Цитування
Полевая ионная микроскопия металлов при интенсивном внешнем воздействии / В.А. Ивченко, Б.М. Эфрос, Е.В. Попова, Н.Б. Эфрос, Л.В. Лоладзе // Физика и техника высоких давлений. — 2003. — Т. 13, № 3. — С. 109-116. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.