Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
Завантаження...
Файли
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України
Анотація
Опис
Теми
Электрохимия
Цитування
Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза / А.Т. Васько, Е.М. Циковкин, Ю.С. Краснов // Украинский химический журнал. — 1983. — Т. 49, № 2. — С. 156-159. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.