Методы анализа высокочистых материалов с предварительным концентрированием примесей

Abstract

Представлены сравнительные данные аналитических возможностей масс-спектрометрических и атомно-эмиссионных спектральных методов с различными плазменными источниками возбуждения и ионизации (ИСП-МС, ИСП-АЭС, ДПТ-АЭС и ДДП-АЭС) для многоэлементного анализа высокочастотных веществ с предварительным концентрированием микропримесей.Подано порівняльні дані аналітичних можливостей мас-спектрометричних і атомно-емісійних спектральних методів з різними плазменими джерелами збудження та йонізації (ІСП-МС, ІСП-АЕС, ДПТ-АЕС і ДДП-АЕС) для багатоелементного аналізу високочистих речовин з попереднім концентруванням мікродомішок.The analytical figures of merit of atomic emission and mass spectrometric methods (ICP-AES and ICP-MS, DC-Arc AES and Two Jet Arc Plasmotron AES) in combination with pre-concentration of microelements employed for ultra trace analysis of high purity substances were compared and contrasted.