Simulation of plasma wakefield focusing and self-focusing of a short sequence of electron bunches depending on the bunch length, shape and distance between bunches
Завантаження...
Файли
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Анотація
By using two-dimensional numerical simulation, the ratio between the effects of wakefield focusing and self-focusing during the propagation of a short sequence of electron bunches in plasma has been simulated. Cases of dominant wakefield focusing have been demonstrated. In addition, the collection data is presented on the parameters of the bunch length, shape and distance between bunches correspond to certain ratios of wakefield focusing and self-focusing that can be used in further studies.
За допомогою двовимірного чисельного моделювання змодельовано співвідношення між ефектами кільватерного фокусування та самофокусування при поширенні короткої послідовності електронних згустків у плазмі. Продемонстровані випадки домінуючого кільватерного фокусування. Крім того, представлені збірні дані про параметри довжини, форми згустку та відстані між згустками, що відповідають певним співвідношенням фокусування кільватерним полем та самофокусування, які можуть бути використані в подальших дослідженнях.
За допомогою двовимірного чисельного моделювання змодельовано співвідношення між ефектами кільватерного фокусування та самофокусування при поширенні короткої послідовності електронних згустків у плазмі. Продемонстровані випадки домінуючого кільватерного фокусування. Крім того, представлені збірні дані про параметри довжини, форми згустку та відстані між згустками, що відповідають певним співвідношенням фокусування кільватерним полем та самофокусування, які можуть бути використані в подальших дослідженнях.
Опис
Теми
Basic plasma physics
Цитування
Simulation of plasma wakefield focusing and self-focusing of a short sequence of electron bunches depending on the bunch length, shape and distance between bunches / ПІБ // Problems of Atomic Science and Technology. — 2022. — № 6. — С. 36-39. — Бібліогр.: 14 назв. — англ.