Цифровой метод измерения коэффициента направленного отражения поверхности

Завантаження...
Ескіз

Дата

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України

Анотація

Применение в отражательной фотометрии многоэлементного фотоприемника позволило увеличить точность и упростить измерение спектрального коэффициента направленного отражения поверхности.
Встановлено звязок між коефіцієнтом відбиття поверхніта координатою зображення у площині фотоприймача. Розроблено цифровий метод вимірювання коефіцієнту відбиття з використанням багатоелементного фотоприймача, що дозволяє збільшити точність вимірювань додесятих часток відсотка.
The connection between the reflectance of a surface and the coordinate of picture in a photodetector plane is established. The digital method of measurement of reflectance with application of the multielement photodetector is developed. This method allows to increase accuracy of measurements to the tenth shares of percent.

Опис

Теми

Электронные средства: исследования, разработки

Цитування

Цифровой метод измерения коэффициента направленного отражения поверхности / И.А. Иванченко, В.И. Сантоний, В.А. Смынтына // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2010. — № 3. — С. 16-20. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced