Логические методы расчета надежности

Завантаження...
Ескіз

Дата

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України

Анотація

Предложена автоматно-логическая модель надежности систем, в которой входные процессы автомата моделируют надежностные процессы в блоках системы, а выходные - надежностные процессы в самой системе.
Запропоновано автоматично-логічну модель надійності систем. У ній вхідні процеси автомату моделюють надійнісні процеси у блоках системи, а вихідні процеси автомату - надійнісні процеси у самій системі.
An automatical-logical model of system reliability has been introduced. Automaton's input processes model safety processes in system packages, and the it's output processes model safety processes inside system itself.

Опис

Теми

Электронные средства: исследования, разработки

Цитування

Логические методы расчета надежности / В.И. Левин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2010. — № 4. — С. 32-39. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced