Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы

Abstract

В результате компьютерного моделирования хаотического движения элементарных частиц в системах с хаотической и упорядоченной структурой сделан вывод о возможности использования фликкер-шума при анализе надежности элементов электроники.Приведено результати комп.ютерного моделювання хаотичного руху елементарних частинок в плоскому пря мокутнику, якому можна поставити у відповідність плівковий резистор з електронами провідності. Аналізспектральної щільності хаотичного руху вказує, що один·з параметрів флікер-шуму залежить від кількості елементарних частинок і середньої швидкості їх руху. Другий параметр флікер-шуму (час релаксації) залежить від особливостей внутрішньої структури системи. Це може бути використано для прогнозування надійності як окремих елементів електроніки, так і апаратури в цілому порівню їх флікер-шуму, який можна виміряти.·The results of computer design of chaotic motion of elementary particles are resulted in a flat rectangle which can be put in accordance to a pellicle resistor with the electrons of conductivity. The analysis of spectral closeness of chaotic motion shows that one of parameters of flicker-noise depends only on the amount of elementary particles and middle rate of their movement. The second parameter of flicker-noise (time of relaxation) depends on the features of underlying structure of the system. It can be used for prognostication of reliability as separate elements of electronics so apparatus as a whole on the measured level of their flicker-noise.