Вычисление дифракционной составляющей глубины резко изображаемого пространства в оптическом микроскопе
Завантаження...
Дата
Автори
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Анотація
Предложен математический аппарат для вычисления дифракционной составляющей глубины резко изображаемого пространства в оптическом микроскопе по критериям Рэлея и Марешаля.
Опис
Теми
Технологические процессы и оборудование
Цитування
Вычисление дифракционной составляющей глубины резко изображаемого пространства в оптическом микроскопе / В.Н. Боровицкий // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2007. — № 4. — С. 38-47. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.