Електронна структура вуглецевих нанокомпозитів, отриманих карбонізацією толуїлендіізоціанату в матрицях із високодисперсних оксидів Al₂O₃ та SiO₂

Abstract

Із застосуванням методів ентгенівської емісійної (ЕС) та фотоелектонної (ФС) спектоскопії досліджено електонну стуктуу вуглецевих композитів подуктів кабонізації толуїлендіізоціанату (ТДІ) в матицях високодиспесних оксидів SiO₂ й Al₂O₃.С применением методов рентгеновской эмиссионной (РЭС) и фотоэлектронной (РФС) спектроскопии исследована электронная структура углеродных композитов — продуктов карбонизации толуилендиизоцианата (ТДИ) в матрицах высокодисперсных оксидов SiO₂ и Al₂O₃.The methods of X-ray emission spectroscopy (XES) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) have been used to study the electronic structure of carbon composites, products of tolylene-diisocyanate (TDI) carbonization in high-dispersion SiO₂ and Al₂O₃.matrices.