Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат
Завантаження...
Дата
Автори
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
Анотація
Рассмотрены методы совершенствования параметров аналоговых интерфейсов на основе БИС и особенности оценки эффективности этих методов с помощью виртуальных плат.
It is considered signal averaging to increase the ADC resolution and time interleaving to increase ADC sample rate. The methods are checked with virtual evaluation board.
It is considered signal averaging to increase the ADC resolution and time interleaving to increase ADC sample rate. The methods are checked with virtual evaluation board.
Опис
Теми
Цитування
Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат / В.А. Романов, И.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2006. — № 5. — С. 133-140. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.