Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий

Завантаження...
Ескіз

Дата

Автори

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України

Анотація

Для решения задач материаловедения компания «Карл Цейсс» предлагает прямые и инвертированные микроскопы отраженного света, поляризационные и стереомикроскопы последнего поколения.

Опис

Теми

Цитування

Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий // Физика и техника высоких давлений. — 2007. — Т. 17, № 2. — С. 137-138. — рос.

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced