Реальность оценок размеров пятен на поверхностях астероидов, сделанных спектрально-частотным методом
Завантаження...
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Головна астрономічна обсерваторія НАН України
Анотація
Кратко описан новый спектрально-частотный метод (СЧМ) исследований поверхностей безатмосферных тел, позволяющий оценивать размеры пятен различной природы.
Коротко описано новий спектрально-частотний метод (СЧМ) досліджень поверхонь без атмосферних тіл, що дозволяє оцінювати розміри плям різної природи.
A new spectral-frequency method (SFM) for the study of solid body surfaces is briefly described.
Коротко описано новий спектрально-частотний метод (СЧМ) досліджень поверхонь без атмосферних тіл, що дозволяє оцінювати розміри плям різної природи.
A new spectral-frequency method (SFM) for the study of solid body surfaces is briefly described.
Опис
Теми
Динамика и физика тел Солнечной системы
Цитування
Реальность оценок размеров пятен на поверхностях астероидов, сделанных спектрально-частотным методом / В.В. Прокофьева-Михайловская, В.В. Бусарев, Н.Н. Горькавый, А.Н. Рублевский // Кинематика и физика небесных тел. — 2011. — Т. 27, № 6. — С. 31-43. — Бібліогр.: 33 назв. — рос.