Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок

Abstract

З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані експерименти з вивчення особливостей близької впорядкованости полімерних і неорганічних плівок товщиною 200—500 нм на підложжях різної природи.Technique for investigation of short-range ordering in ultrathin epitaxial films is realized using standard x-ray DRON-2.0 diffractometer in the geometry of parallel gliding beams under conditions of total external reflection. Peculiarities of short-range ordering in polymer and inorganic films of 200—500 nm in thickness on various substrates are studied.С использованием стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реализована методика изучения особенностей ближней упорядоченности материала сверхтонких эпитаксиальных пленок с использованием геометрии параллельных скользящих лучей в условиях полного внешнего отражения. Проведены эксперименты по изучению особенностей ближней упорядоченности полимерных и неорганических пленок толщиной 200—500 нм на подложках различной природы.