Оценка параметров распределения дефектов ИС с помощью помехоустойчивой кластеризации

Abstract

Проведена оценка параметров распределения дефектов ИС с помощью помехоустойчивой кластеризации. Предложены метод и процедура оценки размеров блока среднекластерного распределения дефектов ИС с использованием мультистартового субградиентного итеративного метода кластеризации. Оценена помехоустойчивость метода кластеризации и его погрешность.Проведено оцінку параметрів розподілу дефектів ІС з допомогою завадостійкої кластеризації. Запропоновані метод і процедура оцінки розмірів блоку середньокластерного розподілу дефектів ІС з використанням мультистартового субградієнтного ітеративного методу кластеризації. Проведена оцінка завадостійкості методу кластеризації та його похибки.The IC defect distribution parameters evaluation with noise stability clustering was carryied out. The IC medium clustering defect distribution’s block size evaluation method and its implementation procedure was proposed. In that procedure multi starting sub gradient iterative clustering method is used. The experimental investigation for this clustering method noise immunity increasing and own error decreasing estimation was carried out.