Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения
Завантаження...
Дата
Автори
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
Анотація
Предлагается метод прогнозирования остаточного ресурса электронных устройств после длительного хранения на основе DN-распределения наработки до отказа.
Запропоновано метод прогнозування залишкового ресурсу електронних пристроїв після тривалого зберігання на основі DN-розподілу наробітку до відмови.
It is offered the method of residual resource of electronic devices forecasting after long storage on the basis of DN-distribution of MTTF.
Запропоновано метод прогнозування залишкового ресурсу електронних пристроїв після тривалого зберігання на основі DN-розподілу наробітку до відмови.
It is offered the method of residual resource of electronic devices forecasting after long storage on the basis of DN-distribution of MTTF.
Опис
Теми
Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення
Цитування
Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения / А.В. Федухин // Мат. машини і системи. — 2004. — № 4. — С. 164-170. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.