Модульована структура сполуки (Tb₀,₇₀Zr₀,₃₀)(Al₀,₁₇Si₀,₈₃)
Завантаження...
Файли
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
Анотація
Рентгенiвським дифракцiйним методом монокристала визначено кристалiчну структуру чотирикомпонентної сполуки (Tb₀,₇₀Zr₀,₃₀)(Al₀,₁₇Si₀,₈₃): надпросторова група
PCm2m(00q), a = 0,4152(1), b = 1,0421(3), c = 0,3854(1) нм, хвильовий вектор модуляцiї q = 0,1440(1), базовий структурний тип CrB.
Рентгеновским дифракционным методом монокристалла определена кристаллическая структура четырехкомпонентного соединения (Tb₀,₇₀Zr₀,₃₀)(Al₀,₁₇Si₀,₈₃): сверхпространственная группа PCm2m(00q), a = 0,4152(1), b = 1,0421(3), c = 0,3854(1) нм; волновой вектор модуляции q = 0,1440(1), базовый структурный тип CrB.
The crystal structure of the compound (Tb₀,₇₀Zr₀,₃₀)(Al₀,₁₇Si₀,₈₃) is refined on the basis of X-ray single-crystal diffraction data: modulated structure, superspace group PCm2m(00q), a = 0.4152(1), b = 1.0421(3), c = 0.3854(1) nm; modulation wave vector q = 0.1440(1), basic structure type CrB.
Рентгеновским дифракционным методом монокристалла определена кристаллическая структура четырехкомпонентного соединения (Tb₀,₇₀Zr₀,₃₀)(Al₀,₁₇Si₀,₈₃): сверхпространственная группа PCm2m(00q), a = 0,4152(1), b = 1,0421(3), c = 0,3854(1) нм; волновой вектор модуляции q = 0,1440(1), базовый структурный тип CrB.
The crystal structure of the compound (Tb₀,₇₀Zr₀,₃₀)(Al₀,₁₇Si₀,₈₃) is refined on the basis of X-ray single-crystal diffraction data: modulated structure, superspace group PCm2m(00q), a = 0.4152(1), b = 1.0421(3), c = 0.3854(1) nm; modulation wave vector q = 0.1440(1), basic structure type CrB.
Опис
Теми
Хімія
Цитування
Модульована структура сполуки (Tb₀,₇₀Zr₀,₃₀)(Al₀,₁₇Si₀,₈₃) / Н.М. Муць, Л.Г. Аксельруд, Р.Є. Гладишевський // Доповiдi Нацiональної академiї наук України. — 2013. — № 2. — С. 100–106. — Бібліогр.: 14 назв. — укр.