Magnetic structure of subsurface layers of single crystalline yttrium-iron garnet films implanted with Si+ ions with various energies

Abstract

Findings from the investigation of subsurface layers of epitaxial single crystalline yttrium-iron garnet Y₃Fe₅O₁₂ films implanted with Si* ions with the dose of 5.10¹³ cm⁻² and energies of 100 - 150 keV using conversion electron Mossbauer spectroscopy are presented and the comparison with previously obtained results from simulations and x-ray diffractometry studies is carried out. The analysis of profiles and the integral lattice disorder in the subsurface layers confirms the validity of theoretical models used in this work.Висновки з дослідження підповерхневих шарів епітаксіального монокристалічного залізо-ітрієві граната Y₃Fe₅O₁₂ плівок імплантовані іонами Si* з дозою 5.10¹³ см⁻² і енергій 100 - 150 кеВ за допомогою перетворення електронної месбауерівської спектроскопії представлені і порівняння з раніше отриманими результати моделювання і досліджень рентгенівської дифрактометрії здійснюється. Аналіз профілів і інтегральної невпорядкованості решітки в приповерхневих шарах підтверджує правильність теоретичних моделей, що використовуються в даній роботі.Выводы из исследования подповерхностных слоев эпитаксиального монокристаллического железо-иттриевого граната Y₃Fe₅O₁₂ пленок имплантированы ионами Si* с дозой 5.10¹³ см⁻² и энергий 100 - 150 кэВ с помощью преобразования электронной мессбауэровской спектроскопии представлены и сравнения с ранее полученными результаты моделирования и исследований рентгеновской дифрактометрии осуществляется. Анализ профилей и интегральной неупорядоченности решетки в приповерхностных слоях подтверждает правильность теоретических моделей, используемых в данной работе. Remove selected