Определение структурной неоднородности кристаллов по данным анализа картин Кикучи

Abstract

Предложен новый подход к определению локальных деформаций в кристаллах по картинам дифракции обратно отражённых электронов (картинам Кикучи) с использованием метода гистограмм и метода дискретного двухмерного фурье-преобразования. Определена анизотропия в распределении локальных деформаций на поверхности образцов алмаза, полученных методом температурного градиента в системе Fe—Al—C и методом наращивания в среде Mg—C  бор на поверхности монокристалла алмаза статического синтеза (Ni—Mn—C).Запропоновано новий підхід щодо визначення локальних деформацій у кристалах за картинами дифракції зворотньо відбитих електронів (картинами Кікучі) з використанням методу гістограм та методу дискретного двовимірного Фур’є-перетвору. Визначено анізотропію в розподілі локальних деформацій на поверхні зразків алмазу, одержаних методом температурного ґрадієнта в системі Fe—Al—C і методом нарощування в середовищі Mg—C  бор на поверхні монокристалу алмазу статичного синтезу (Ni—Mn—C).A new approach to the local-strain determination in crystals from patterns of backscattered-electron diffraction (Kikuchi patterns) based on histogram method and discrete two-dimensional Fourier transformation is proposed. Anisotropy of local-strain distribution is determined on surface of diamond samples fabricated by the method of temperature gradient in Fe—Al—C system and by the method of growth on the surface of diamond single crystal of static synthesis (Ni—Mn—C) in the Mg—C  boron medium