Calculated images of dislocations in crystals on section topograms
Завантаження...
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Анотація
By means of numerical solution of the Takagi equations, modeling of X-ray
topographic images of deformation fields of the dislocation loops and dislocation of
different types. Diffraction images created by dislocations and dislocation loops of
different size and spatial location are complicated and versatile in their thin structure.
Опис
Теми
Цитування
Calculated images of dislocations in crystals on section topograms / S.M. Novіkov, І.M. Fodchuk, D.G. Fedortsov, A.Ya. Struk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2010. — Т. 13, № 3. — С. 268-272. — Бібліогр.: 19 назв. — англ.