X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector
Завантаження...
Дата
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Анотація
Опис
Теми
Technology
Цитування
X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector / I.F. Mikhailov, A.A. Baturin, L.P. Fomina // Functional Materials. — 2010. — Т. 17, № 1. — С. 127-130. — Бібліогр.: 2 назв. — англ.