Зонды с алмазным острием для сканирующей туннельной микроскопии

Abstract

Рассмотрены зонды на базе остриев из монокристалла алмаза, легированного бором, а также этапы отбора и подготовки пригодных для изготовления зондов алмазных образцов. Оценена работоспособность полученных зондов при сканировании образцов, поверхность которых обладает развитой топографией.Розглянуто зонди на базі вістер з монокристалу алмазу легованого бором, а також етапи відбору та підготовки придатних для виготовлення зондів алмазних зразків. Оцінено працездатність отриманих зондів при скануванні зразків, поверхня яких має розвинену топографію.The article deals with the probes based on the tip made from singlecrystal diamond doped with boron. The stages of selection, preparation of samples of diamond, suitable for the manufacture of probe. Estimated performance derived probes for scanning the surface of the sample 'which has developed the topography.