Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
Завантаження...
Дата
Автори
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Анотація
A theory has been advanced providing an adequate description of thermal-activated relaxation resonances of various physical origins in defect-containing materials. The algorithm has been proposed for processing the temperature spectra of absorption and suscep -tibility defect to determine the relaxation process activation parameters.
Предложена теория, позволяющая адекватно описывать низкотемпературные термически активируемые релаксационные резонансы различной физической природы в материалах с дефектами. Описан алгоритм определения активационных параметров соответствующего процесса, основанный на анализе температурных спектров поглощения и дефекта восприимчивости.
Запропоновано тєорію, що дозволяє адекватно описувати релаксаційні резонанси різної фізичної природи у матеріалах з дефектами. Описано метод визначення активаційних параметрів відповідного процесу, що базується на аналізі температурних спектрів поглинання та сприйнятливості.
Предложена теория, позволяющая адекватно описывать низкотемпературные термически активируемые релаксационные резонансы различной физической природы в материалах с дефектами. Описан алгоритм определения активационных параметров соответствующего процесса, основанный на анализе температурных спектров поглощения и дефекта восприимчивости.
Запропоновано тєорію, що дозволяє адекватно описувати релаксаційні резонанси різної фізичної природи у матеріалах з дефектами. Описано метод визначення активаційних параметрів відповідного процесу, що базується на аналізі температурних спектрів поглинання та сприйнятливості.
Опис
Теми
Цитування
Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects / V.D. Natsik, Yu.A. Semerenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 2. — С. 327-333. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.