Тензорезистивный эффект в поликристаллической многослойной пленке

Завантаження...
Ескіз

Дата

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України

Анотація

С использованием квазиклассического приближения в рамках модифицированной модели Маядаса и Шацкеса теоретически проанализирован тензорезистивный эффект в многослойной поликристаллической пленке. Получено общее (при произвольном соотношении между толщинами слоев) и асимптотические (для толстых и тонких по сравнению с длиной свободного пробега электронов слоев металла, входящих в состав мультислоя) выражения для коэффициентов продольной и поперечной тензочувствительности. Предсказана их немонотонная зависимость от отношений толщин соседних слоев металла и выполнен детальный численный расчет коэффициента продольной тензочувствительности при различных значениях параметров, характеризующих мультислой.
З використанням квазикласичного наближення у рамках модифікованого моделю Маядаса і Шацкеса теоретично проаналізовано тензорезистивний ефект у багатошаровій полікристалічній плівці. Одержано загальне (при довільному співвідношенні між товщинами шарів) та асимптотичні (для товстих і тонких у порівнянні з довжиною вільного пробігу електронів шарів металу, які входять до складу багатошарової плівки) вирази для коефіцієнтів поздовжньої і поперечної тензочутливости. Передбачено їх немонотонну залежність від відношення товщин суміжних шарів металу і виконано детальний чисельний розрахунок коефіцієнта поздовжньої тензочутливости при довільних значеннях параметрів, які характеризують мультишар.
Within the scope of the modified Mayadas—Shatzkes model, the tensoresistance of a multilayered polycrystalline film is analysed theoretically. The general and asymptotical expressions for the coefficients of the strainsensitivity (CSS) are obtained. A non-monotonic behaviour of the CSS as a function of the ratio of the adjacent layer thicknesses is predicted. A detailed calculation of the longitudinal CSS for the wide range of the layer thicknesses at various values of the parameters, which characterize the multilayer, is performed.

Опис

Теми

Цитування

Тензорезистивный эффект в поликристаллической многослойной пленке / Ю.А. Шкурдода, Л.В. Дехтярук, А.Н. Чорноус // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2010. — Т. 8, № 3. — С. 579-592. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced