Анізотропний модель динамічної трикристальної Ляве-дифрактометрії структурної досконалости кристалічних виробів нанотехнологій. ІІ. Дифузна складова динамічної картини розсіяння

Завантаження...
Ескіз

Дата

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України

Анотація

В межах узагальненої динамічної теорії розсіяння Рентґенових променів у недосконалих кристалах розглянуто динамічне дифузне розсіяння (ДР) від крупних дефектів у випадку геометрії дифракції за Ляве. Одержано аналітичні вирази для диференційної та проінтеґрованої за вертикальною розбіжністю інтенсивностей ДР у кристалі з однорідно розподіленими дефектами, які створюють навколо себе анізотропні поля зміщень атомів матриці. Для дефектів ріжних типів і розмірів побудовано карти розподілу інтенсивности ДР у просторі оберненої ґратниці й продемонстровано вплив на їх вигляд інтеґрування за вертикальною розбіжністю Рентґенових променів.
В рамках обобщённой динамической теории рассеяния рентгеновских лучей в несовершенных кристаллах рассмотрено динамическое диффузное рассеяние (ДР) от крупных дефектов в случае геометрии дифракции по Лауэ. Получены аналитические выражения для дифференциальной и проинтегрированной по вертикальной расходимости интенсивностей ДР в кристалле с однородно распределёнными дефектами, которые создают вокруг себя анизотропные поля смещений атомов матрицы. Для дефектов разных типов и размеров построены карты распределения интенсивности ДР в пространстве обратной решетки и продемонстрировано влияние на их вид интегрирования по вертикальной расходимости рентгеновских лучей.
Within the framework of the generalized dynamical theory of x-ray scattering from imperfect crystals, the dynamical diffuse scattering (DS) by large defects is considered in the case of Laue diffraction geometry. Analytical expressions for DS intensities, which are differential or integrated over the vertical divergence, are obtained for crystals containing homogenously distributed defects, which create around themselves the anisotropic displacement fields of atoms in a matrix. For defects of various types and sizes, the maps of DS intensity distributions in the reciprocal lattice space are plotted, and the influence of the integration over vertical divergence of x-rays on their shape is demonstrated.

Опис

Теми

Цитування

Анізотропний модель динамічної трикристальної Ляве-дифрактометрії структурної досконалости кристалічних виробів нанотехнологій. ІІ. Дифузна складова динамічної картини розсіяння / В.Б. Молодкін, С.Й. Оліховський, Б.В. Шелудченко, Є.Г. Лень, М.Т. Когут // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2008. — Т. 6, № 3. — С. 807—827. — Бібліогр.: 18 назв. — укр.

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced