Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу

dc.contributor.authorСучков, Г.М.
dc.contributor.authorХащина, С.В.
dc.contributor.authorДесятниченко, А.В.
dc.date.accessioned2016-06-09T15:48:18Z
dc.date.available2016-06-09T15:48:18Z
dc.date.issued2013
dc.description.abstractОписана универсальная ЭМА приставка для стандартных УЗ дефектоскопов и толщиномеров. Прибор позволяет повысить выявляемость дефектов, увеличить производительность контроля, при этом не требуется специальная зачистка поверхности изделия. Приведены основные технические характеристики приставки и описание ее компонентов: блока управления (формирователя радиосигналов), силового усилителя (генератора зондирующих импульсов), предварительного усилителя с узкополосным фильтром, органов управления и отображения настроек. Приставка позволяет плавно регулировать основные параметры выходных сигналов: частоты в пакете возбуждения от 0,2 до 1,5 МГц, частоты следования от 40 Гц и до частоты, ограниченной подключенным дефектоскопом, количества периодов частоты заполнения в пакете от 1 до 10, выходную мощность от 0 до 100 %. Приставка имеет широкий спектр применения в комплексе с различными приборами и преобразователями практически любого типа, в том числе пьезоэлектрическими, что позволяет повысить чувствительность контроля. Показан пример применения прибора со стандартным серийным дефектоскопом при контроле волнами Рэлея цилиндрического образца на наличие поверхностных и подповерхностных дефектов. Показано, что на расстоянии до 1 м выявляются модели трещин глубиной от 0,2 мм и более. Приставка имеет малые габариты и массу, общее энергопотребление приставки составляет не более 15 Вт, что является определяющим критерием при использовании ее в полевых условиях.uk_UA
dc.description.abstractThe paper describes an all-purpose EMA-attachment for standard UT flaw detectors and thickness meters. The instrument allows increasing defect detectability, and improving testing efficiency, without requiring any special cleaning of item surface. Main technical parameters of the attachment and description of its components are given. The attachment allows smooth adjustment of the main parameters of output signals: frequency in excitation pack from 0.2 up to 1.5 MHz, repetition rate from 40 Hz and up to frequency limited by the connected flaw detector, number of filling frequency periods in the pack from 1 up to 10 and output power from 0 up to 100%. The attachment has a broad application spectrum in a set with various instruments and transducers of practically any type, also piezo electric ones. The paper gives an example of instrument application with standard batchproduced flaw detector at testing of a cylindrical sample by Raleigh waves for surface and subsurface defects. It is shown that crack models of the depth from 0.2 mm and more are detected at up to 1 m distance. The attachment has small size and weight that is the determinant criterion for its application in the field.uk_UA
dc.identifier.citationМалогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу / Г.М. Сучков, С.В. Хащина, А.В. Десятниченко // Техническая диагностика и неразрушающий контроль. — 2013. — № 4. — С. 44-47. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn0235-3474
dc.identifier.udc620. 179. 16: 620. 179. 17
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/102006
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofТехническая диагностика и неразрушающий контроль
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectНаучно-технический разделuk_UA
dc.titleМалогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопуuk_UA
dc.title.alternativeSmall-sized EMA attachment to batch-produced ultrasonic flaw detectoruk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
05-Suchkov.pdf
Розмір:
650.71 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: