Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения

Abstract

Рассматриваются естественная ширина спектрального пика параметрического рентгеновского излучения (ПРИ) из тонкого кристалла и ширина спектрального пика, обусловленная угловым разрешением эксперимента. Найдены условия, при которых естественная ширина превышает ширину, обусловленную угловым разрешением эксперимента. Показана возможность применения ПРИ для измерения толщины кристаллического слоя в нанометровом диапазоне и обсуждается постановка эксперимента на ускорителе электронов.

Розглядається природна ширина спектрального пика параметричного рентгенівського випромінювання (ПРВ) з тонкого кристала та ширина спектрального пику, зумовлена кутовим дозволом експерименту. Знайдені умови, при яких природна ширина перевищує ширину, зумовлену кутовим дозволом експерименту. Показана можливість застосування ПРВ для виміру товщини кристалічного шару в нанометровому діапазоні та обговорюється постановка експерименту на прискорювачі електронів.

The natural spectral peak width of the parametric X-ray radiation (PXR) from a thin crystal and the spectral peak width due to experimental angular resolution are considered. The conditions when the natural spectral peak width exceeds the width due to experimental angular resolution are found. A possibility for application of the PXR for measurements of the thickness of a thin crystalline layer in nanometer range is shown and experimental layout at electron accelerator is discussed.