Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorБлецкан, Д.И.
dc.contributor.authorЛукьянчук, А.Р.
dc.contributor.authorПекар, Я.М.
dc.date.accessioned2014-01-10T00:36:06Z
dc.date.available2014-01-10T00:36:06Z
dc.date.issued2006
dc.description.abstractПредложено использовать люминесценцию в качестве экспресс-метода определения собственных и примесных точечных дефектов в кристаллах сапфира и сапфировых подложках.uk_UA
dc.identifier.citationИсследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами / Д.И. Блецкан, А.Р Лукьянчук.,Я.М. Пекар // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2006. — № 3. — С. 59-64. — Бібліогр.: 29 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn2225-5818
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52922
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofТехнология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectМатериалы электроникиuk_UA
dc.titleИсследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методамиuk_UA
dc.title.alternativeДослідження власних та домішкових точкових дефектів в сапфірових підкладинках люмінесцентними методамиuk_UA
dc.title.alternativeStudy proper and doped point defects in sapphire substrates by luminescence methodsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
14-Bletskan.pdf
Розмір:
453.13 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2006, № 3