О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorФедухин, А.В.
dc.date.accessioned2010-03-02T10:11:51Z
dc.date.available2010-03-02T10:11:51Z
dc.date.issued2003
dc.description.abstractПолучено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации.uk_UA
dc.identifier.citationО влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn1817-9908
dc.identifier.udc621.382-192
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/6388
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН Україниuk_UA
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleО влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техникиuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
14-Fedukhin.pdf
Розмір:
241 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
1.82 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Комп’ютерні засоби, мережі та системи, 2003, № 2