Модульный спектрометр для оценки качества технологии твердотельных детекторов

dc.contributor.authorПеревертайло, В.Л.
dc.contributor.authorЗайцевский, И.Л.
dc.contributor.authorТарасенко, Л.И.
dc.contributor.authorПеревертайло, А.В.
dc.contributor.authorШкиренко, Э.А.
dc.contributor.authorКрюков, А.С.
dc.date.accessioned2014-02-15T23:05:44Z
dc.date.available2014-02-15T23:05:44Z
dc.date.issued2013
dc.description.abstractРассмотрено применение зарядочувствительных предусилителей и спектрометрических усилителей для преобразования и усиления сигналов твердотельных детекторов, указаны факторы, определяющие энергетическое разрешение спектрометрического тракта. Описана техника спектрометрии для контроля качества p—i—n-фотодиодов, приведена структура многоцелевой спектрометрической системы, схемные решения ее отдельных узлов, указаны их особенности и параметры.uk_UA
dc.description.abstractРозглянуто застосування зарядочутливих попередніх підсилювачів і спектрометричних підсилювачів для перетворення і підсилення сигналів твердотільних детекторів, вказані чинники, що визначають енергетичне роздільну здатність спектрометричного тракту. Описано техніку спектрометрії для контролю якості p-i-n-фотодіодів, наведено структуру багатоцільовий спектрометричної системи, схемні рішення її окремих вузлів, вказано їх особливості та параметри.uk_UA
dc.description.abstractThe authors consider application of charge sensitive preamplifiers and spectrometric amplifiers for transformation and amplification of signals of solid state detectors. The factors that determine the energy resolution of the spectrometer path are presented. The article describes the spectrometry technique for p-i-n-photodiodes quality control. The structure of a multi-purpose spectrometer system and schematics of its individual components are presented, their features and parameters are specified.uk_UA
dc.identifier.citationМодульный спектрометр для оценки качества технологии твердотельных детекторов / В.Л. Перевертайло, И.Л. Зайцевский, Л.И. Тарасенко, А.В. Перевертайло, Э.А. Шкиренко, А.С. Крюков // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2013. — № 2-3. — С. 3-10. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn2225-5818
dc.identifier.udc621.375.4:539.1.075
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/56313
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofТехнология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectЭлектронные средства: исследования, разработкиuk_UA
dc.titleМодульный спектрометр для оценки качества технологии твердотельных детекторовuk_UA
dc.title.alternativeМодульний спектрометр для оцінки якості технології твердотільних детекторівuk_UA
dc.title.alternativeModular spectrometer for quality assessment of solid-state detector technologyuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
01-Perevertailo.pdf
Розмір:
293.02 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: