Control complex for a double-sided microstrip detector production and tests
dc.contributor.author | Kaplij, A.A. | |
dc.contributor.author | Kulibaba, V.I. | |
dc.contributor.author | Kuijer, P. | |
dc.contributor.author | Maslov, N.I. | |
dc.contributor.author | Ovchinnik, V.D. | |
dc.contributor.author | Potin, S.M. | |
dc.contributor.author | Starodubtsev, A.F. | |
dc.date.accessioned | 2015-05-27T12:09:12Z | |
dc.date.available | 2015-05-27T12:09:12Z | |
dc.date.issued | 2000 | |
dc.description.abstract | The controlling system for detector silicon and for a double-sided microstrip detectors (DSMD) characteristics tests is described. | uk_UA |
dc.identifier.citation | Control complex for a double-sided microstrip detector production and tests / A.A. Kaplij, V.I. Kulibaba, P. Kuijer, N.I. Maslov, V.D. Ovchinnik, S.M. Potin, A.F. Starodubtsev // Вопросы атомной науки и техники. — 2000. — № 2. — С. 41-45. — Бібліогр.: 5 назв. — англ. | uk_UA |
dc.identifier.issn | 1562-6016 | |
dc.identifier.other | PACS: 29.40.Wk | |
dc.identifier.uri | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/82268 | |
dc.language.iso | en | uk_UA |
dc.publisher | Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України | uk_UA |
dc.relation.ispartof | Вопросы атомной науки и техники | |
dc.status | published earlier | uk_UA |
dc.subject | Еxperimental methods | uk_UA |
dc.title | Control complex for a double-sided microstrip detector production and tests | uk_UA |
dc.title.alternative | Контролирующий комплекс для производства и испытаний двустороннего микрострипового детектора | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Файли
Оригінальний контейнер
1 - 1 з 1
Контейнер ліцензії
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 817 B
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: