Residual error after non-uniformity correction

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorBorovytsky, V.N.
dc.date.accessioned2017-06-11T13:14:06Z
dc.date.available2017-06-11T13:14:06Z
dc.date.issued2000
dc.description.abstractThe paper represents the technique for residual error evaluation after two-points linear non-uniformity correction. This technique takes into consideration parameters of an imaging system, reference sources, non-linearity and noise of a focal plane array.uk_UA
dc.identifier.citationResidual error after non-uniformity correction / V.N. Borovytsky // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2000. — Т. 3, № 1. — С. 102-105. — Бібліогр.: 4 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1560-8034
dc.identifier.otherPACS 07.07.D,42.79.P,Q
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/120229
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofSemiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleResidual error after non-uniformity correctionuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
18-Borovytsky.pdf
Розмір:
95.92 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2000, № 1