The effect of strain on the thermodynamic properties of Ge-Si, Ge-Sn, Si-Sn, Si-C thin solid films

dc.contributor.authorDeibuk, V.G.
dc.contributor.authorKorolyuk, Yu.G.
dc.date.accessioned2017-06-13T17:29:07Z
dc.date.available2017-06-13T17:29:07Z
dc.date.issued2002
dc.description.abstractStructural and thermodynamic properties of IV-IV solid solutions were calculated by molecular dynamics simulation. Biaxial strains are extremely important for the miscibility behavior of alloy films. It was shown the existence of critical thickness for the GexSi₁-x, Ge₁-xSnx, Si₁-xSnx, Si₁-xCx thin solid films. The results of the classical molecular dynamic simulations are in good agreement with experimental data and other ab-initio calculations. The effect of layer thickness have great influence on the miscibility gap.uk_UA
dc.identifier.citationThe effect of strain on the thermodynamic properties of Ge-Si, Ge-Sn, Si-Sn, Si-C thin solid films / V.G. Deibuk, Yu.G. Korolyuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2002. — Т. 5, № 3. — С. 247-253. — Бібліогр.: 22 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1560-8034
dc.identifier.otherPACS: 64.75.+g , 65.50.+m , 68.60.Dv
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/121241
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofSemiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleThe effect of strain on the thermodynamic properties of Ge-Si, Ge-Sn, Si-Sn, Si-C thin solid filmsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
04-Deibuk.pdf
Розмір:
333.88 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: