Включения в кристаллах синтетических алмазных высокопрочных порошков
dc.contributor.author | Новиков, Н.В. | |
dc.contributor.author | Богатырева, Г.П. | |
dc.contributor.author | Ильницкая, Г.Д. | |
dc.contributor.author | Невструев, Г.Ф. | |
dc.contributor.author | Петасюк, Г.А. | |
dc.contributor.author | Ткач, В.Н. | |
dc.contributor.author | Богданов, Р.К. | |
dc.contributor.author | Исонкин, А.М. | |
dc.contributor.author | Закора, А.П. | |
dc.contributor.author | Зайцева, И.Н. | |
dc.date.accessioned | 2010-02-12T17:54:47Z | |
dc.date.available | 2010-02-12T17:54:47Z | |
dc.date.issued | 2009 | |
dc.description.abstract | Изучены содержание внутрикристаллических включений и их элементный состав в алмазных высокопрочных шлифпорошках, синтезированных с использованием Fe–Ni в качестве сплава-растворителя. Качественные исследования выполнены на приборе DiaInspect.OSM, количественное содержание и элементный состав включений в порошках алмаза измерены методом рентгенофлуоресцентного интегрального анализа с использованием растрового электронного микроскопа BS-340. | uk_UA |
dc.description.abstract | Вивчено вміст внутрішньокристалічних включень і їх елементний склад в діамантових високоміцних шліфпорошках, синтезованих з використанням Fe–Ni у якості сплаву-розчинника. Виконано якісні і кількісні дослідження вмісту включень в кристалах алмазу. Якісні дослідження включень в діамантових шліфпорошках виконано на приладі Diainspect.OSM. Кількісний вміст і елементний склад включень у порошках діаманту зміряно методом рентгенофлуоресцентного інтегрального аналізу з використанням растрового електронного мікроскопа BS-340. | uk_UA |
dc.description.abstract | The results of study of intracrystalline inclusion content and the element composition in diamond high-strength grinding powders synthesized in the presence of alloy – solvent Fe–Ni are presented. Qualitative analysis has been carried out by device DiaInspect. OSM, quantitative content and element composition of inclusions in diamond powders have been determined by X-ray fluorescence integral analysis using a scanning electron microscope BS-340. | uk_UA |
dc.identifier.citation | Включения в кристаллах синтетических алмазных высокопрочных порошков / Н.В. Новиков, Г.П. Богатырева, Г.Д. Ильницкая, Г.Ф. Невструев, Г.А. Петасюк, В.Н. Ткач, Р.К. Богданов, А.М. Исонкин, А.П. Закора, И.Н. Зайцева // Физика и техника высоких давлений. — 2009. — Т. 19, № 2. — С. 48-53. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. | uk_UA |
dc.identifier.issn | 0868-5924 | |
dc.identifier.uri | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/5984 | |
dc.language.iso | ru | uk_UA |
dc.publisher | Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України | uk_UA |
dc.status | published earlier | uk_UA |
dc.title | Включения в кристаллах синтетических алмазных высокопрочных порошков | uk_UA |
dc.title.alternative | Включення в кристалах синтетичних діамантових високоміцних порошків | uk_UA |
dc.title.alternative | Inclusions in crystals of synthetic diamond high-strength powders | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Файли
Оригінальний контейнер
1 - 1 з 1
Контейнер ліцензії
1 - 1 з 1
Завантаження...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 1.82 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: