5-я Национальная научно-техническая конференция и выставка «Неразрушающий контроль и техническая диагностика»

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorЦечаль, В.А.
dc.date.accessioned2016-04-04T19:00:48Z
dc.date.available2016-04-04T19:00:48Z
dc.date.issued2006
dc.description.abstractВ очередной раз в столицу Украины — солнечный город Киев — на 5-ю Национальную научно-техническую конференцию и выставку «Неразрушающий контроль и техническая диагностика» съехались специалисты по неразрушающему контролю, чтобы поделиться своими достижениями и обсудить проблемные вопросы в области НК и ТД.uk_UA
dc.identifier.citation5-я Национальная научно-техническая конференция и выставка «Неразрушающий контроль и техническая диагностика» / В.А. Цечаль // Техническая диагностика и неразрушающий контроль. — 2006. — № 2. — С. 64-65. — рос.uk_UA
dc.identifier.issn0235-3474
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/97900
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherІнститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofТехническая диагностика и неразрушающий контроль
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.subjectХроника и информацияuk_UA
dc.title5-я Национальная научно-техническая конференция и выставка «Неразрушающий контроль и техническая диагностика»uk_UA
dc.title.alternative5th National scientific-technical conference and exhibition «Non-Destructive Testing and Technical Diagnostics»uk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
15-Tsechal.pdf
Розмір:
278.18 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Техническая диагностика и неразрушающий контроль, 2006, № 2