Аномальная чувствительность к микродефектам деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции в монокристаллах

Abstract

Работа посвящена экспериментальному изучению диагностических возможностей метода деформационных зависимостей (ДЗ) полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) для монокристаллов с микродефектами в случае, когда диффузная составляющая ПИИДД может быть соизмеримой с её когерентной составляющей или существенно превышать её. Показано, что в этом случае ДЗ ПИИДД аномально чувствительны и уникально информативны при их использовании для определения характеристик микродефектов в многопараметрических монокристаллических системах.

Роботу присвячено експериментальному вивченню діягностичних можливостей методи деформаційних залежностей (ДЗ) повної інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції (ПІІДД) для монокристалів з мікродефектами у випадку, коли дифузна складова ПІІДД може бути співмірною з її когерентною складовою або значно перевищувати її. Показано, що в цьому випадку ДЗ ПІІДД аномально чутливі й унікально інформативні при використанні їх для визначення характеристик мікродефектів у багатопараметричних монокристалічних системах.

An experimental study of the diagnostic capabilities of the method of deformation dependences (DDs) of the total integrated intensity of dynamical diffraction (TIIDD) for single crystals with microdefects is carried out. The case, when the diffuse component of the TIDID can be commensurable with its coherent component or substantially exceeds it, is considered. As shown, the TIIDD DDs are anomalously sensitive and uniquely informative to characteristics of microdefects in multiparametric single-crystal systems.