Макроскопическая физика пластической деформации металлов

Abstract

Рассмотрены закономерности, определяющие развитие локализованной пластической деформации твёрдых тел. При анализе характеристик локализованного пластического течения металлов, неметаллов и горных пород обнаружена корреляция произведений масштабов и скоростей процессов упругой и пластической деформаций. На этом основании высказана гипотеза о причинной взаимосвязи упругой и пластической составляющих деформации и введён упругопластический инвариант деформации, играющий роль основного уравнения развиваемой автоволновой модели пластичности. Предложены автоволновой и квазичастичный варианты описания явления локализованной пластичности.

Розглянуто закономірності, що визначають розвиток локалізованої пластичної деформації твердих тіл. При аналізі характеристик локалізованої пластичної плинности металів, неметалів і гірських порід виявлено кореляцію добутків масштабів і швидкостей процесів пружньої та пластичної деформацій. На цій підставі висловлено гіпотезу про причинний взаємозв’язок пружньої та пластичної складових деформації і введено пружньопластичний інваріянт деформації, що виконує роль основного рівняння розвинутого автохвильового моделю пластичности. Запропоновано автохвильовий і квазичастинковий варіянти опису явища локалізованої пластичности.

The localized plastic deformation and the law-like regularities underlying its development in solids are considered. The characteristic features of localized plasticity are analysed for a wide series of materials, i.e. metals, non-metals, and rocks. Thus, a correlation is established between the products of scales and process rates for the elastic and plastic deformations. It is favourable ground for hypothesizing causal links between the elastic and plastic deformations by introducing an elastic–plastic invariant, which is the master equation of the autowave plasticity model being developed. It is proposed that localized plasticity phenomena have to be described within the scope of the autowave and quasi-particle approaches.