Determination of oscillator strength of confined excitons in a semiconductor microcavity

dc.contributor.authorCotta, E.A.
dc.contributor.authorRoma, P.M.S.
dc.date.accessioned2019-06-14T10:28:03Z
dc.date.available2019-06-14T10:28:03Z
dc.date.issued2014
dc.description.abstractWe have achieved a significant experimental Rabi-splitting (3.4 meV) for confined polaritons in a planar semiconductor λ microcavity for only a single quantum well (SQW) of GaAs (10~nm) placed at the antinode. The Rabi-splitting phenomena are discussed in detail based on the semiclassical theory, where two coupled harmonic oscillators (excitons and photons) are used to describe the system. In this way, we can obtain the dispersion curve of polaritons, the minimum value for the cavity reflectance and the oscillator strength to reach the strong coupling regime. This approach describes an ensemble of excitons confined in a SQW and includes a dissipation component. The results present a weak coupling regime, where an enhanced spontaneous emission takes place, and a strong coupling regime, where Rabi-splitting in the dispersion curve can be observed. The theoretical results are confronted with experimental data for the reflectance behavior in resonant and off-resonant conditions and present a great accuracy. This allows us to determine the oscillator strength of the confined excitons in the SQW with great precision.uk_UA
dc.description.abstractНами досягнуто значного експериментального розщеплення Рабi (3.4 меВ) для обмежених поляритонiв у плоскому напiвпровiдниковому λ мiкрорезонаторi для одиночної квантової ями GaAs (10 нм), розмiщеної в антивузлi. Явище розщеплення Рабi детально обговорюється на основi напiвкласичної теорiї, коли для опису системи використовуються два зв’язанi гармонiчнi осцилятори (екситони i фотони). В такий спосiб можна отримати дисперсiйну криву поляритонiв, мiнiмальне значення для коефiцiєнта вiдбивання резонатора i силу осцилятора для досягнення сильнозв’язаного режиму. Цей пiдхiд описує ансамбль екситонiв обмежених одною квантовою ямою i враховує дисипацiю. Результати представляють як слабозв’язаний режим з посиленням спонтанної емiсiї, так i сильнозв’язаний режим, коли спостерiгається розщеплення Рабi на дисперсiйнiй кривiй. Теоретичнi результати порiвнюються з експериментальними даними для поведiнки коефiцiєнта вiдбивання в резонансних i нерезонансних умовах i є дуже точними. Це дозволяє з високою точнiстю визначити силу осциляторiв обмежених однiєю квантовою ямою екситонiв.uk_UA
dc.description.sponsorshipThe authors would like to thank F.M. Matinaga of Federal University of Minas Gerais (UFMG) for the use of his cryostat and for fruitful discussions of the sample. We would also like to thank the Instituto Nacional de Ciência e Tecnologia — Dispositivos Semicondutores (INCT-DISSE) and the National Research Council (CNPq) for their financial support.uk_UA
dc.identifier.citationDetermination of oscillator strength of confined excitons in a semiconductor microcavity / E.A. Cotta, P.M.S. Roma // Condensed Matter Physics. — 2014. — Т. 17, № 2. — С. 23702:1-11. — Бібліогр.: 30 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1607-324X
dc.identifier.otherarXiv:1407.2430
dc.identifier.otherDOI:10.5488/CMP.17.23702
dc.identifier.otherPACS: 78.67.De, 42.25.Hz, 42.50.Ct, 42.50.Pq, 42.55.Sa, 42.70.Qs
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/153452
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherІнститут фізики конденсованих систем НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofCondensed Matter Physics
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleDetermination of oscillator strength of confined excitons in a semiconductor microcavityuk_UA
dc.title.alternativeВизначення сили осциляторiв обмежених екситонiв у напiвпровiдниковому мiкрорезонаторiuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
06-Cotta.pdf
Розмір:
947.92 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Завантаження...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: