Optimized calibration of cryogenic silicon thermodiodes

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorIvashchenko, O.M.
dc.contributor.authorShwarts, Yu.M.
dc.contributor.authorShwarts, M.M.
dc.contributor.authorKopko, D.P.
dc.contributor.authorSypko, M.I.
dc.date.accessioned2017-05-26T17:35:15Z
dc.date.available2017-05-26T17:35:15Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractShown in this paper is the efficiency of smoothing cubic spline approximation aimed at optimization of calibration of cryogenic silicon diode thermometers (SDTs). The proposed algorithm allows to significantly reduce time and material costs associated with calibration of SDTs.uk_UA
dc.identifier.citationOptimized calibration of cryogenic silicon thermodiodes / O.M. Ivashchenko, Yu.M. Shwarts, M.M. Shwarts, D.P. Kopko, M.I. Sypko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2011. — Т. 14, № 4. — С. 399-402. — Бібліогр.: 4 назв. — англ.uk_UA
dc.identifier.issn1560-8034
dc.identifier.otherPACS 06.20.Fb; 02.60.Ed; 02.60.Gf; 07.20.Dt
dc.identifier.urihttps://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/117784
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherІнститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН Україниuk_UA
dc.relation.ispartofSemiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.statuspublished earlieruk_UA
dc.titleOptimized calibration of cryogenic silicon thermodiodesuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Файли

Оригінальний контейнер

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
03-Ivashchenko.pdf
Розмір:
239.08 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Контейнер ліцензії

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
817 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекція

Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2011, № 4